Measurement Insight Library
計測評価Library
NBCI計測評価分科会では、産業界のニーズが高い課題に関するナノ計測評価の最先端技術情報を収集することで、新材料・デバイス開発・製造に寄与することをめざしています。
![[NEW] 計測機器応用リンク集](https://www.nbci.jp/nbci-wp/wp-content/uploads/library/measurement_library/img/measurement_library_img_01.jpg)
[NEW] 計測機器応用リンク集
最終更新日：2026.07.16
ナノ計測評価の事例紹介に直接アクセスしやすくするため、計測評価分科会では、計測機器ごとに会員企業の計測アプリケーション事例や解説記事を中心とした「計測機器応用リンク集」を作成いたしました。
ナノテクノロジーに関連する材料や製品などを評価・分析されている計測機器ユーザーの方々に、多数の測定事例からヒントを見つけていただければと思います。
皆様の計測課題の解決につながる一助としてご活用いただければ幸いです。
![[NEW] オペランド計測 (活用事例・課題・専門家一覧)](https://www.nbci.jp/nbci-wp/wp-content/uploads/library/measurement_library/img/ChatGPT-Image-2026年6月24日-12_10_48_圧縮_1.jpg)
[NEW] オペランド計測 (活用事例・課題・専門家一覧)
最終更新日：2026.07.06
オペランド計測とは、デバイス等が使用されている状態で、物性変化をモニタする計測です。計測評価分科会では、主に「活用事例と課題、専門家等」の観点で一覧表に整理いたしました。本一覧表はオペランド計測を意識しつつもin-situ計測も含めて整理いたしました。なお、本表は2020年に作成、2021年に改訂したものです。内容、専門家、出典等には、その後の進展、異動、リンク切れ等もあります。作成当時のままでの公開ですので、ご留意ください。2026年5月に出典等のリンク切れが明確なものは（注）を付しました。
ナノ材料等の計測評価や開発活動等にご活用していただければ幸いです。
粒径分布計測：装置一覧表
最終更新日：2024.12.17 Ver.8（2022.09.28改定）からVer.9へ更新
EU等ではナノ材料の粒径分布に基づき「ナノ定義」がなされ、各種の規制等に展開されております。そこでNBCIテクノロジー委員会（計測評価分科会）では「粒径分布計測装置一覧表」を作成してきました。方式（装置）ごとに分類し基本的なスペックを整理したものです。今回、この一覧表を更新いたしました。ご活用いただければ幸いです。
粒径分布計測：対象と分類方法
最終更新日：2025.01.22
粒径分布計測はさまざまな状態の試料に対し、各種原理に基づく多くの計測法が用いられています。計測評価分科会では、広く用いられている計測法について、計測方法、対象、製造・販売会社に加え、測定方法/特徴を製造・販売各社の資料や、webにある「粉体光学用語辞典」などを参考にまとめてみました。ご活用いただければ幸いです。
粒子分布計測：SEMによるナノ粒子の粒子径分布計測プロトコル
最終更新日：2019.06.19 一部改訂
ナノ材料安全管理の必要性から、EUではナノ粒子のサイズ分布に基づき「ナノ材料」が定義され、この定義に該当する製品について規制が開始されています。また、フランス等でナノ材料の登録制度や表示の義務化（ナノラベリング）が開始され、OECDにおいては安全性試験のテストガイドライン策定の動きが始まっています。その一方で、工業粉体製品の粒子径分布の統一された測定法がないのが現状です。
そこで、NBCI社会受容・標準化委員会では、ナノ材料の観察・計測技術の一つに挙げられるSEM（走査電子顕微鏡）に着眼しました。SEM法は簡便・迅速に観察ができ、産業界で広く普及している手法であるためです。具体的には、チタ二ア、シリカナノ粒子を用いて、複数機関によるラウンドロビン試験を実施し、試料調整法から画像解析法まで、ベストプラクティスを検討し、この度、計測プロトコルを作成、公開することに致しました。事例を多く取り入れております。ご活用いただければ幸いです。
なお試料調整法に関してはナノ粒子が適度に分散された試料を用いることを前提としており、試料を観察用基板にセットする際に粒子が再凝集しないような調整法をプロトコルの対象としました。
お役立ちリンク
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計測評価分科会活動（NBCI会員専用ページ）
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2024.9.14 情報計測オンラインセミナー動画
【前半】上田 勝英（日本電子株式会社 経営戦略室 オープンイノベーション推進グループ）「深層学習によるノイズ低減 Noise2Voidの紹介」
【後半】薮下 広高（株式会社堀場製作所 開発本部 IoT&データアナリティクス部 Data Scienceチーム チームリーダー）「深層学習を用いたスペクトル機差にロバストな検量モデル開発 -
情報計測オンラインセミナーシリーズ
数理・情報科学×計測科学の高度融合による新展開
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一般社団法人日本分析機器工業会（JAIMA）
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共通データフォーマット対応ガイドライン（JAIMA）
一般社団法人日本分析機器工業会では、「JIS K 0200：2024 計測分析装置の分析データ共通フォーマット」の利用を支援する参考ドキュメントとして、「共通データフォーマット対応ガイドライン」および「MaiMLスキーマ定義ファイル・スキーマチェック手順書」を作成しました。
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