第3回 ARIMマテリアル循環-量子・電子制御領域合同計測セミナー

ARIM Japan のホームページにおいてもご案内を差し上げておりますとおり、ARIM事業を推進する２つの重要技術領域による合同計測セミナーでは、”計測技術”をテーマに、注目のトピックスを厳選して紹介しています。
第3回は「X線関連技術」にフォーカスし、各機関の特色ある先端的な取り組みをピックアップ。X線計測が拓く、材料研究の新たな可能性。
ぜひこの機会に、お気軽にご参加ください。
https://nanonet.go.jp/page/page001045.html
https://nanonet.go.jp/seti/page/page000151.html

【プログラム】
・主催者代表あいさつ
（物質・材料研究機構　領域代表　田中美代子）
・X線光源とX線イメージング技術の進展
（北海道大学　西野吉則）
・放射光コヒーレントX線によるナノ結晶非破壊3次元顕微イメージング
（量子科学技術研究開発機構　大和田謙二）
・蛍光X線ホログラフィーを用いたドーパント構造解析とその応用
（名古屋工業大学　木村耕治）
・分子科学研究所のX線溶液散乱装置とその利用事例の紹介
（分子科学研究所　秋山修志）
・ARIMデータを利用したMIの紹介
（物質・材料研究機構　今野俊生）